技术参数：

1. Eos CCD 检测器 
2. 增强型Mo 或 Cu光源 
3. 四圆 kappa 测角仪

主要特点：

1. 检测器：采用级别最高、缺陷率最低的CCD芯片，具有灵敏度最高、动态范围最大和速度最快等特点。适合于测量要求苛刻的小分子晶体的衍射数据。 
2. 光源：（1）Enhance光源配有单导管光学部件 (Monocapillary Optic) ，大大提高了作用在晶体样品上的X射线强度。（2）专利设计的Enhance光源，采用一体化光路设计，最大限度地减少了现场对光和更换X光管后光路校正的需求。 
3. 测角仪： 4个角度都可以自由转动，是兼顾常规晶体结构分析和专业晶体学研究的唯一选择。

4. 系统控制和数据分析软件：CrysAlis^pro是一个功能强大的全自动软件，实现对仪器的控制、数据采集和处理。软件免费更新，可以多地点、多用户使用。

规格参数

商品货号： ECS000158

商品重量： 0克

上架时间： 2013-08-07

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